de.wedoany.com-Bericht: Keysight Technologies, Inc. und WIN Semiconductors Corp haben heute die Einführung eines gemeinsamen MMIC-Design-Workflows bekannt gegeben, der darauf abzielt, Unternehmen, die Galliumnitrid (GaN) Monolithische Mikrowellen-Integrierte Schaltungen (MMICs) entwickeln, einen erfolgreichen Erstentwurf zu ermöglichen. Dieser Workflow integriert Multi-Domänen-Simulation auf dem Chip, 3D-Layout und -Verifikation sowie das Design von MMIC-Bewertungsplatinen außerhalb des Chips in einer einzigen Umgebung. Er unterstützt die wachsende Zahl von Unternehmen, die GaN-MMICs für 5G-Basisstationen, Wi-Fi-Zugangspunkte, Satellitennutzlasten und Radarsysteme der Verteidigung entwickeln.
Ein fehlgeschlagener Tape-out bedeutet in der Regel, dass mehrere Wochen für eine weitere Fertigungsrunde beim Foundry aufgewendet werden müssen. Der neue Workflow automatisiert alle für das Design-Signoff erforderlichen Simulations-, Optimierungs- und Verifikationsschritte und stellt sicher, dass alle Analysen abgeschlossen sind, bevor das Design zur Fertigung an das Foundry übergeben wird.
MMIC-Kunden verpflichten sich in der Regel erst dann zum Kauf, wenn sie die Leistung einer physischen Bewertungsplatine messen können, die den MMIC, das Gehäuse, die Leiterplatte und die Testanschlüsse umfasst. Der Workflow ermöglicht es Ingenieuren, diese On-Chip- und Off-Chip-Komponenten gemeinsam zu entwerfen und zu optimieren, um sicherzustellen, dass die Leistung den durch getestete Geräte verifizierten Spezifikationen entspricht. Der weltweite Markt für GaN-HF-Bauelemente wird bis 2031 voraussichtlich 2,77 Milliarden US-Dollar erreichen. MMIC-Designfirmen, die die Leistung auf einer Bewertungsplatine nicht nachweisen können, riskieren, ihren Anteil am Wachstum zu verlieren.
Das neueste NP 120P GaN-Prozess-Design-Kit (PDK) von WIN Semiconductors bietet MMIC-Designern Prozessmodelle und Layout-Regeln. Diese Modelle sind in das Advanced Design System (ADS) und die RF Circuit Simulation Professional Edition von Keysight integriert und automatisieren den Workflow für einen erfolgreichen MMIC-Erstentwurf.
Richard Kuo, Director of Design Services bei WIN Semiconductors, erklärte, dass die Zusammenarbeit mit Keysight eine maßgeschneiderte Layout-versus-Schematic (LVS)-Lösung im WIN ADS PDK ermögliche. In Kombination mit der ADS-Expertise von Keysight und dem PDK sowie den fortschrittlichen Prozesstechnologien von WIN vereinfache diese umfassende Verifikationslösung den Designprozess der Kunden und beschleunige die Markteinführung fortschrittlicher HF-Produkte mit höherer Zuversicht und Zuverlässigkeit.
Nilesh Kamdar, General Manager der EDA Design Engineering Software bei Keysight, sagte, dass das vollständige PDK von WIN in Kombination mit den Simulations- und Verifikationstools von Keysight den Designern einen einzigen Pfad vom Chip-Design bis zur Bewertungsplatine biete. Designfirmen könnten nun die vollständige Systemleistung vor der Fertigung nachweisen, was den Kunden ausreichend Vertrauen für ihre Zusage gebe.
