CIQTEK aus China stellt 200-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop vor und verfügt über Serienfertigungs- und Lieferfähigkeit

de.wedoany.com-Bericht: Am 18. Oktober wurde das von der CIQTEK Technology (Hefei) Co., Ltd. eigenständig entwickelte 200-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop TEM-F200 auf der Jahrestagung der Chinesischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie 2026 in Nanjing offiziell vorgestellt. Das Produkt erreicht eine Informationsauflösung von 0,1 Nanometern und eine Punktauflösung von 0,25 Nanometern; mehrere Schlüsselleistungsindikatoren erreichen internationales Spitzenniveau, und das Produkt verfügt bereits über Serienfertigungs- und Lieferfähigkeit. Dies markiert den beschleunigten Übergang heimischer Hochleistungs-Transmissionselektronenmikroskope von Durchbruch in der Entwicklung hin zur produktisierten Auslieferung.

Das Transmissionselektronenmikroskop ist ein Schlüsselanalysinstrument in Bereichen wie Halbleiter, fortschrittliche Materialien, neue Energien und Life Sciences. Es nutzt einen hochenergetischen Elektronenstrahl, der die Probe durchdringt, und erzeugt Bilder durch Erfassung transmittierter, gestreuter und gebeugter Elektronen, um Kristallstrukturen, Grenzflächen und Defekte auf atomarer Skala zu charakterisieren. Lange Zeit wurde der globale Markt für Transmissionselektronenmikroskope von wenigen internationalen Herstellern dominiert, und inländische Nutzer waren bei Gerätebeschaffung, Lieferung von Schlüsselkomponenten, Reparatur und Wartung, Softwareanpassung und Anwendungsdienstleistungen stark von externen Anbietern abhängig. Die Realisierung der heimischen Fertigung von Hochleistungs-Transmissionselektronenmikroskopen trägt dazu bei, den Grad der Autonomie und Kontrollierbarkeit der Lieferkette für wissenschaftliche Instrumente zu erhöhen.

Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskope der 200-kV-Klasse stellen extrem hohe Anforderungen an die kooperative Stabilität mehrerer Systeme wie Elektronenkanone, Hochspannungsversorgung, Elektronenoptik, Detektoren und Gesamtgerätesteuerung und bilden seit Langem einen technologischen Spitzenbereich internationaler Hersteller. Das Team von CIQTEK hat durch eigenständige Entwicklung den gesamten Prozess von Kernmodulen über Steuerungs- und Analysesoftware und Systemintegration bis hin zur Gesamtoptimierung abgeschlossen.

He Yu, Vorsitzender von CIQTEK, erläuterte: „Das 200-kV-Transmissionselektronenmikroskop verfügt über eine höhere Beschleunigungsspannung; die kinetische Energie des Elektronenstrahls ist höher und die Wellenlänge kürzer, wodurch die Durchdringungsfähigkeit für hochdichte Proben innerhalb eines bestimmten Dickenbereichs im Vergleich zu Niedervoltplattformen stärker ist. In Kombination mit geeignet dünnen Probenbereichen und entsprechendem Analysezubehör kann es die hochauflösende Bildgebung, Grenzflächen- und Defektanalyse sowie die kompositionsanalytische Untersuchung von Mikrobereichen im Nanomaßstab in Bereichen wie Halbleiter und fortschrittliche Materialien besser unterstützen. Die Schwierigkeit seiner Entwicklung besteht nicht einfach darin, die Beschleunigungsspannung zu erhöhen, sondern eine stabile Koordination mehrerer Systeme wie Hochspannungsversorgung, Elektronenkanone, Elektronenoptik, Detektoren, Software und Gesamtgerätesteuerung zu erreichen. Nach kontinuierlicher Forschungsarbeit verfügt das TEM-F200 bereits über Serienfertigungs- und Lieferfähigkeit, und ein umfassendes Kundendienstsystem wurde aufgebaut."

Wu Aihua, Generalsekretär der Fachgesellschaft für Analysegeräte der Chinesischen Gesellschaft für Instrumentierung und Messtechnik, erklärte, dass 200-kV-Transmissionselektronenmikroskope in Forschungs- und Industriebereichen wie Materialentwicklung, Mikrostruktur- und Fehleranalyse von Chips, Biomedizin und Produktqualitätskontrolle eingesetzt werden können. Die Vorstellung des 200-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskops von CIQTEK werde das Angebot an heimischen Hochleistungs-Wissenschaftsinstrumenten weiter bereichern und die autonome Absicherungsfähigkeit von Analysen- und Testtechnologien erhöhen.