de.wedoany.com-Bericht: Die Anforderungen an Bildaufnahmegeschwindigkeit, Übertragungsstabilität und Echtzeitverarbeitung steigen im Bereich der hochpräzisen industriellen Inspektion kontinuierlich, insbesondere in Branchen wie Halbleiter, Genomsequenzierung und Flachbildschirme. Herkömmliche Flächenkameras stoßen zunehmend an ihre Grenzen in Bezug auf Scanbreite, Bildqualität und Verarbeitungsgeschwindigkeit. Die neue Generation der TDI-Zeilenscantechnologie mit ihrer mehrstufigen Integrations-Bildgebung stellt daher einen entscheidenden Weg zur Bewältigung dieser Herausforderung dar. Das kürzlich von Basler vorgestellte neue Hochleistungs-Zeilenscan-Visionssystem ist ein Ergebnis dieser technologischen Ausrichtung.
Dieses Zeilenscan-Visionssystem ist mit der racer 2 XL 16K TDI-Kamera und der imaFlex 2 Dual 100 Bildaufnahmekarte ausgestattet. Es basiert auf einer CoaXPress-3.0-Glasfaserarchitektur und bietet eine stabile Bandbreite von 100 Gbps sowie eine 256-stufige TDI-Integration. Die racer 2 XL 16K-Kamera verwendet einen rückseitig beleuchteten TDI-Chip und kombiniert eine 16K-Ultraweitwinkelauflösung mit der 256-stufigen TDI-Integrationstechnologie. Dies erhöht die abgedeckte Fläche pro Scan erheblich und ermöglicht auch auf Hochgeschwindigkeitsproduktionslinien die Ausgabe von Bildern mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis und hohem Kontrast bei einer maximalen Zeilenfrequenz von 500 kHz.
Als komplettes Zeilenscan-Visionssystem löst die Glasfaserübertragungsarchitektur das Problem der Datenübertragung über große Entfernungen bei hohen Geschwindigkeiten und verfügt gleichzeitig über eine hervorragende elektromagnetische Verträglichkeit, um die Datenintegrität in komplexen industriellen Umgebungen zu gewährleisten. Die imaFlex 2 Dual 100 Aufnahmekarte fungiert als Datenzentrale, unterstützt den Anschluss von bis zu zwei TDI-Kameras und verfügt über ein integriertes FPGA zur Implementierung von Bildvorverarbeitungsalgorithmen, wodurch die CPU-Last des Hostrechners erheblich reduziert wird. Die Datenweiterleitungsarchitektur ermöglicht die flexible Weiterleitung von Rohdaten oder vorverarbeiteten Daten an mehrere kaskadierte PCs, was eine Entkopplung von Bildaufnahme und -analyse ermöglicht.
Dieses Zeilenscan-Visionssystem kann in Bereichen wie Wafer- und Halbleiterinspektion, Batterieproduktionsinspektion, Flachbildschirminspektion, PCB-Bareboard-Inspektion sowie Genomsequenzierung eingesetzt werden. Es ermöglicht hochauflösende Bildgebung und Erkennung feinster Defekte unter Hochgeschwindigkeitsförderbedingungen und erfüllt damit die strengen Anforderungen der hochpräzisen industriellen Inspektion.
Dieser Artikel wurde von Wedoany übersetzt und bearbeitet. Bei jeglicher Zitierung oder Nutzung durch künstliche Intelligenz (KI) ist die Quellenangabe „Wedoany“ zwingend vorgeschrieben. Sollten Urheberrechtsverletzungen oder andere Probleme vorliegen, bitten wir Sie, uns unverzüglich zu benachrichtigen. Wir werden den entsprechenden Inhalt umgehend anpassen oder löschen.
E-Mail: news@wedoany.com
